Semiconductor front-end

半導体ウエハ計測向けカメラ

QUARTZ camera

Adimecは光学検査・計測システム向けのマシンビジョンカメラを設計することで、システムのスループット、検出能力の向上に貢献します。緊密なパートナーシップを通し、採用される計測方法に合わせ、CCDカメラの最高のクオリティを引き出したり、CMOSカメラのスピード限界を上げるなど、お客様の技術革新の支援をするためにハイエンドビジョン製品の肌理の細い調整をします。当社のカメラは三次元干渉法や三次元位相シフト法のような三次元計測アルゴリズムで採用されています。

 

ビジョンシステムでの僅かな変動がウエハ製造の生産量に直接影響を与えるために、当社の高信頼性カメラは時間や温度に左右されず高い再現性を実現させます。

半導体計測・検査装置向けカメラ

当社のマシンビジョンカメラはウエハ検査・計測装置の予想通りの安定した稼動を確実なものにします。 

OCD metrology

Overlay inspection

Crack inspection

CD metrology

Increase throughput

微小な特徴を検出しウエハのスループットを向上させる

Faster, Better, Cheaper が当社の絶え間のない向上目標です。

より微小な特徴を検出する

Adimecは半導体工程管理システム向けに年間数千台ものカメラを供給しています。ごく微細な情報の取得を容易にするためのカメラ設計や独自の画像検出処理に注力しています。ハイダイナミックレンジ、高感度、高い画像の均一性により、Adimecのマシンビジョンカメラは増え続けるインライン評価要件にシステムを対応可能にする卓越した画像を表出します。

ウエハスループットを向上させる 

当社は常にイメージクオリティを損なうことなく最速のフレームスピードを達成するよう努めています。バーストモ-ド, CoaXPress 関心領域(ROI)などのテクノロジーが効果的です。

生産性を向上させる

信頼性の高い、時間や温度に左右されず高い再現性を実現するカメラ。

信頼できる安定した性能で生産量を向上させる

 

Adimecカメラの精度と実証されたクオリティの鍵は、センサ実装と調節の工程で細心の注意が払われていることです。更に、全てのカメラが一貫した品質であることを確保するために機械的、電気的調整が行われる工程で、それぞれのカメラは厳密な個別のアッセンブリとテストプロセスを経ます。

 

一貫した性能のカメラは計測のばらつきを減らしプロセス変動の測定に役立ちます。それにより修正措置を取るための根本原因解析をしながらプロセスの偏差を減らします。

推奨製品

QUARTZ シリーズ

グローバルシャッターCMOS

  • 素子サイズ 5.5 um
  • 2M at 340 fps
  • 4M 最高 180 fps
  • 12M 最高 187 fps
  • Camera Link, CoaXPress
  • 80 x 80 x 29 mm
OPAL シリーズ

CCD

  • 素子サイズ 5.5 um
  • 1M at 120 fps から 8M at 16 fps
  • Camera Link (Base), GigE, CoaXPress
  • 52.5 x 52.5 x 78 mm
Qs シリーズ

グローバルシャッターCMOS

  • 素子サイズ 5.5 um
  • 2M @ 120 fps から 4M at 60 fps
  • Camera Link (Base)
  • 52.5 x 52.5 x 78 mm
A-1000 シリーズ

CCD

  • 素子サイズ 7.4 um
  • 1M @ 50 fps – 4Mpx @ 16 fps
  • Camera Link (Base)
  • 45 x 45 x 81 mm (A-1000)
  • 52.5 x 52.5 x 79.4 mm
A-4×50 シリーズ

ローリングシャッターCMOS

  • 素子サイズ 7 um
  • 4M @ 66, 150 または 196 fps
  • Camera Link (Deca)
  • 80 x 80 x 41 mm